Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
Este estándar describe una metodología para acceder a instrumentación integrada dentro de un dispositivo semiconductor sin definir los instrumentos o sus características en sí, a través del puerto de acceso a pruebas (TAP) IEEE 1149.1 y/u otras señales. Los elementos de la metodología incluyen una arquitectura de hardware para la red en chip que conecta los instrumentos a los pines del chip, un lenguaje de descripción de hardware...