KS L 1619-2013(2023)
Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos

Estándar No.
KS L 1619-2013(2023)
Fecha de publicación
2013
Organización
KR-KS
Ultima versión
KS L 1619-2013(2023)

KS L 1619-2013(2023) Historia

  • 0000 KS L 1619-2013(2023)
  • 0000 KS L 1619-2013(2018)
  • 2013 KS L 1619-2013 Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos
  • 2003 KS L 1619-2003 Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de sonda de cuatro puntos



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