QJ 1908A-1998
Método de inspección de la tapa de apertura de aceptación de dispositivos semiconductores. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- QJ 1908A-1998
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1998
- Organización
- Professional Standard - Aerospace
- Reemplazar
- QJ 1908-1990
QJ 1908A-1998 Historia
- 1970 QJ 1908-1990
QJ 1908A-1998 Método de inspección de la tapa de apertura de aceptación de dispositivos semiconductores. ha sido cambiado a QJ 1908-1990 .
