IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2
Métodos estándar IEEE para probar transistores

Estándar No.

IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2

Fecha de publicación

1956

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2

IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2 Historia

• 0000 IEEE Std 218-1956(R1980)*56 IRE 28.S2
• 1956 IEEE 218-1956 MÉTODOS ESTÁNDAR DE PRUEBA DE TRANSISTORES