SJ 2534.7-1986
Procedimientos de prueba para antenas. Mediciones in situ de patrones de amplitud. (Versión en inglés)

Estándar No.: SJ 2534.7-1986
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 1986
Organización: Professional Standard - Electron
Ultima versión: SJ 2534.7-1986

Alcance: Esta norma se aplica a las mediciones in situ de patrones de amplitud.

SJ 2534.7-1986 Historia

1986 SJ 2534.7-1986 Procedimientos de prueba para antenas. Mediciones in situ de patrones de amplitud.

Procedimientos de prueba para antenas. Mediciones in situ de patrones de amplitud.

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