IEEE PC37.26/D3, June 2014 Guía IEEE para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
Se proporcionan métodos para determinar el valor del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA y menos). Estos métodos se utilizan para determinar el factor de potencia durante pruebas de corriente de cortocircuito en laboratorios de alta potencia. Se prefiere que estos métodos se utilicen durante las pruebas de corriente de cortocircuito. Alternativamente, otros métodos (incluido el uso de sistemas computarizados o digitales...