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BSIEC 62047-38. Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 38. Método de prueba para la resistencia de adhesión de pasta de polvo metálico en interconexión MEMS

Estándar No.

20/30404083 DC

Fecha de publicación

2020

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

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20/30404083 DC Historia

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