IEEE P1581/D1.33, September 2010
Borrador del estándar IEEE para arquitectura y protocolo de prueba de interconexión de componentes estáticos

Estándar No.
IEEE P1581/D1.33, September 2010
Fecha de publicación
2010
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
IEEE Std 1581 define un método de bajo costo para probar la interconexión de circuitos integrados (IC) de memoria complejos y discretos donde no hay pines adicionales para las pruebas y la implementación de Boundary-Scan (IEEE 1149.1) no es factible. Este estándar describe las reglas de implementación para la lógica de prueba y los métodos de acceso/salida del modo de prueba en circuitos integrados compatibles. El estándar se limita al comportamiento...



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