IEC 60748-22:1997
Dispositivos A Semiconductores - Circuitos Integrados - Parte 22: Especificación Intermediaria Para Los Circuitos Integres A Couches Et Les Circuits Integres Integres A Couches Sur La Base Des Procedimientos D?Agrement De Savoir-Faire (Edición 2.0; IECQ QC 760200)
- Estándar No.
- IEC 60748-22:1997
- Fecha de publicación
- 1997
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60748-22:1997
- Reemplazar
- IEC 47A/446/FDIS:1996 IEC 60748-22:1992
- Alcance
- Esta especificación seccional se aplica a los circuitos integrados de película y a los circuitos integrados de película híbridos fabricados como circuitos de catálogo o como circuitos personalizados cuya calidad se evalúa sobre la base de la aprobación de capacidad. El objetivo de esta especificación es presentar valores preferidos para clasificaciones y características, seleccionar de la especificación genérica las pruebas y métodos de medición apropiados y brindar requisitos generales de desempeño que se utilizarán en especificaciones detalladas para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos derivados. de esta especificación. El concepto de valores preferidos es directamente aplicable a los circuitos del catálogo, pero no necesariamente se aplica a los circuitos personalizados. Las severidades de las pruebas y los requisitos prescritos en las especificaciones detalladas que hacen referencia a esta especificación seccional son de igual o mayor nivel de desempeño, ya que no se permiten niveles de desempeño más bajos. Asociadas con esta especificación hay una o más especificaciones detalladas en blanco, cada una referenciada por un número IEC. Una especificación detallada en blanco que se ha completado como se especifica en 2.3 de esta especificación, forma una especificación detallada. Dichas especificaciones detalladas se utilizan para la aceptación de un circuito completo y la concesión de aprobación de capacidad para los límites de capacidad identificados por el fabricante en su manual de capacidad y el mantenimiento de la aprobación de capacidad de acuerdo con el sistema IECQ. NOTA - Para los procedimientos de prueba hay dos alternativas disponibles: Método A o método B; sin embargo, no está permitido cambiar los métodos entre las pruebas del método A, respectivamente B. En general, el método A es más adecuado para circuitos integrados de película basados en componentes pasivos, mientras que el método B es más aplicable a circuitos integrados de película basados en tecnología de circuitos integrados semiconductores. .
IEC 60748-22:1997 Historia
- 1997 IEC 60748-22:1997 Dispositivos A Semiconductores - Circuitos Integrados - Parte 22: Especificación Intermediaria Para Los Circuitos Integres A Couches Et Les Circuits Integres Integres A Couches Sur La Base Des Procedimientos D?Agrement De Savoir-Faire (Edición 2.0; IECQ QC 760200)
- 1992 IEC 60748-22:1992 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 22: Especificación seccional para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos sobre la base de los procedimientos de aprobación de capacidad (IECQ QC 760200) (Edición 1.0)
