IEC 61000-4-14:1999+AMD1:2001+AMD2:2009 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje para equipos con corriente de entrada que no exceda los 16 A por fase
Esta parte es una publicación de la serie IEC 61000 sobre compatibilidad electromagnética básica (CEM). Considera las pruebas de inmunidad de equipos eléctricos y/o electrónicos en su entorno electromagnético. Solo se consideran los fenómenos conducidos, incluidas las pruebas de inmunidad de equipos conectados a redes de suministro eléctrico públicas e industriales. Esta parte tiene como objetivo establecer una norma de referencia para evaluar la inmunidad de equipos eléctricos y electrónicos a fluctuaciones de tensión positivas y negativas de baja amplitud. Las fluctuaciones de tensión consideradas en esta norma no incluyen el parpadeo, un fenómeno fisiológico causado por fluctuaciones en la intensidad de la luz. Esta norma se aplica a equipos eléctricos y/o electrónicos con una corriente de entrada nominal que no supere los 16 A por fase. No se aplica a equipos eléctricos y/o electrónicos conectados a redes de distribución de CC o CA de 400 Hz. Las pruebas para estas redes se cubrirán en otras normas IEC. Los niveles de prueba de inmunidad y las normas de rendimiento requeridas para entornos electromagnéticos específicos se especifican en las normas de producto, las normas de familia de productos o las normas generales aplicables. Sin embargo, la mayoría de los grupos de productos no tienen antecedentes de sensibilidad a las fluctuaciones de tensión. Por lo tanto, generalmente no se requieren pruebas para tales fenómenos. Esta parte es una publicación de la serie IEC 61000 sobre compatibilidad electromagnética básica (CEM). Aborda las pruebas de inmunidad de equipos eléctricos y/o electrónicos en su entorno electromagnético. Esta sección considera únicamente los fenómenos conducidos, en particular las pruebas de inmunidad para equipos conectados a redes de suministro eléctrico públicas o industriales. Su objetivo es establecer normas de referencia para evaluar la inmunidad de los equipos eléctricos y electrónicos a fluctuaciones de tensión positivas y negativas de baja amplitud. Las fluctuaciones de tensión estudiadas en esta especificación no incluyen el parpadeo, un fenómeno fisiológico causado por fluctuaciones en la intensidad de la luz. Esta especificación se aplica a equipos eléctricos y/o electrónicos con una corriente de entrada nominal de 16 A o menos por fase. No se aplica a equipos eléctricos y/o electrónicos conectados a redes de distribución de CC o CA de 400 Hz. Las pruebas para estas redes se cubrirán en otras especificaciones CEI. Los niveles de prueba de inmunidad y las normas de rendimiento requeridos para entornos electromagnéticos específicos se especifican en las especificaciones de producto, las especificaciones de familia de productos o las especificaciones generales aplicables. Sin embargo, para la mayoría de los grupos de productos, no se menciona una sensibilidad particular a las fluctuaciones de tensión. Por lo tanto, generalmente no se requieren pruebas para dichos fenómenos.
IEC 61000-4-14:1999+AMD1:2001+AMD2:2009 CSV Documento de referencia
IEC 60068-1 Pruebas ambientales - Parte 1: Generalidades y orientación*, 2013-10-01 Actualizar
IEC 61000-2-4 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 2-4: Medio ambiente - Niveles de compatibilidad en sistemas de distribución de energía en ubicaciones industriales para perturbaciones conducidas de baja frecuencia*, 2024-07-25 Actualizar
IEC 61000-4-14:1999+AMD1:2001+AMD2:2009 CSV Historia
2009IEC 61000-4-14:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje para equipos con corriente de entrada que no exceda los 16 A por fase
2009IEC 61000-4-14:1999/AMD2:2009 Enmienda 2 - Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje para equipos con corriente de entrada que no exceda los 16 A por fase
2002IEC 61000-4-14:2002 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición; Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje
2001IEC 61000-4-14:1999/AMD1:2001 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición; Prueba de inmunidad a las fluctuaciones de voltaje; Enmienda 1
1999IEC 61000-4-14:1999 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje
1999IEC 61000-4-14/AMD1:1999 Enmienda 1 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje (Edición 1.0)