IEC TS 63144-1:2020
Dispositivos de control de procesos industriales - Cámaras termográficas - Parte 1: Caracterización metrológica

Alcance: Esta parte de la norma IEC 63144 se aplica a la presentación y el ensayo de datos técnicos en hojas de datos y especificaciones para cámaras termográficas utilizadas para medir la temperatura superficial en el campo de la metrología. Salvo que se indique lo contrario, esto incluye instrumentos de medición de temperatura bidimensionales y unidimensionales (cámaras lineales o escáneres lineales), independientemente de su principio de escaneo (detector multielemento fijo o sistema de cámara de escaneo). Este documento describe métodos de ensayo estándar para determinar los datos metrológicos relevantes para las cámaras termográficas. Los fabricantes y distribuidores pueden seleccionar los datos relevantes y declarar que cumplen con los requisitos de esta especificación técnica.

IEC TS 63144-1:2020 Historia

2020 IEC TS 63144-1:2020 Dispositivos de control de procesos industriales - Cámaras termográficas - Parte 1: Caracterización metrológica