DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09
Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos

Estándar No.
DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09
Fecha de publicación
2024
Organización
German Institute for Standardization
Ultima versión
DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09
 
Alcance
Parte 5: Prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad en estado estableEsta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad en estado estable para evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticamente en entornos húmedos.

DIN EN IEC 60749-5:2024-09*VDE 0884-749-5:2024-09 Historia

  • 2024 DIN EN IEC 60749-5:2024-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de temperatura y humedad en estado estacionario (IEC 47/2770/CDV:2022); Versión alemana e inglesa prEN IEC 60749-5:2022
  • 2024 DIN EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de vida útil en estado estacionario con polarización de temperatura y humedad (IEC 60749-5:2023); versión alemana EN IEC 60749-5:2024

estándares y especificaciones

NF C96-009:1989 semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos. IEC 60749-1:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-8:2002/COR2:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-8:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-10:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado. IEC 60749-13:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-22:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-2:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte IEC 60749-3:2002/COR1:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte


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