(Esta publicación forma parte del Sistema de Evaluación de Calidad de Componentes Electrónicos (IECQ). Esta publicación es una especificación genérica para dispositivos semiconductores: dispositivos discretos y circuitos integrados, incluidos los circuitos integrados multichip, pero excluyendo los circuitos híbridos. Define procedimientos generales para la evaluación de la calidad para ser utilizado en el Sistema IECQ y proporciona reglas generales para: métodos de medición de características eléctricas; pruebas climáticas y mecánicas NOTA - Esta publicación debe complementarse con las especificaciones detalladas seccionales, familiares y en blanco aprobadas;
GSO IEC 60747-10:2014 Historia
2014GSO IEC 60747-10:2014 Dispositivos semiconductores - Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados