MIL MIL-STD-750-1B-2023
MÉTODOS DE ENSAYO AMBIENTAL PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES —— PARTE 1: MÉTODOS DE ENSAYO 1000 A 1999

Estándar No.

MIL MIL-STD-750-1B-2023

Fecha de publicación

2023

Organización

Military Standards (MIL-STD)

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Alcance

La Parte 1 de esta norma de método de prueba establece métodos de prueba uniformes para las pruebas ambientales básicas de dispositivos semiconductores, con el fin de determinar su resistencia a los efectos nocivos de los elementos y condiciones naturales que rodean las operaciones militares. En esta norma de método de prueba, el término "dispositivos" incluye transistores, diodos, reguladores de voltaje, rectificadores, diodos túnel y otros componentes relacionados. Esta parte se aplica únicamente a dispositivos semiconductores.

MIL MIL-STD-750-1B-2023 Documento de referencia

• ASME Y14.38 Abreviaturas y siglas para su uso en la definición del producto y documentos relacionados*， 2025-06-10 Actualizar
• ASTM 51275 Práctica Estándar para el Uso de un Sistema de Dosimetría con Fílmico Radio Cromático
• ASTM D1120 Método de prueba estándar para el punto de ebullición de los refrigerantes de motor
• ASTM D1331 Métodos de prueba estándar para la tensión superficial e interfacial de soluciones de agentes tensioactivos
• ASTM D2109 Métodos de prueba estándar para materias no volátiles en solventes orgánicos halogenados y sus mezclas
• ASTM D877/D877M Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
• ASTM D971 Método de prueba estándar para la tensión interfacial de aceite contra agua mediante el método del anillo
• ASTM E1249 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
• ASTM E1250 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• ASTM E263 Método de prueba estándar para medir las velocidades de reacción de neutrones rápidos mediante radioactivación del hierro*， 2025-02-01 Actualizar
• ASTM E264 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción de neutrones rápidos mediante radioactivación de níquel
• ASTM E265 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
• ASTM E666 Práctica estándar para calcular la dosis absorbida de radiación gamma o X
• ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos
• ASTM E720 Guía estándar para la selección y el uso de láminas de activación de neutrones para determinar los espectros de neutrones empleados en pruebas de dureza por radiación de productos electrónicos
• ASTM E721 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
• ASTM E722 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
• ESD S20.20 Protección de piezas, conjuntos y equipos eléctricos y electrónicos (excluidos dispositivos explosivos iniciados eléctricamente)*， 2024-05-20 Actualizar

Temas especiales sobre estándares y normas

estándares y especificaciones