EIA-970-2013
Procedimiento de prueba para la caracterización de alta frecuencia de condensadores de chip cerámicos multicapa de baja inductancia

Estándar No.

EIA-970-2013

Fecha de publicación

2013

Organización

ECIA - Electronic Components Industry Association

Alcance

Este método de prueba se utiliza para medir los parámetros S de condensadores cerámicos multicapa de baja inductancia cuando se montan en derivación en un dispositivo de prueba sondable de baja inductancia.