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BS EN 60749-28. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2020
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
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20/30419235 DC Historia
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