Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
En esta norma se formalizan aspectos de los modelos de fallas que son relevantes para la generación de patrones de prueba para circuitos digitales. El alcance incluye el recuento de fallas, la clasificación de fallas y los informes de cobertura de fallas a través de diferentes herramientas de generación automática de patrones de prueba (ATPG), para el modelo de falla única atascada. Corresponderá informar de manera uniforme la cobertura de averías...