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BS EN 62047-27. Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 27. Prueba de resistencia de la unión para estructuras unidas por frita de vidrio mediante pruebas de microchevron (MCT)

Estándar No.

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Fecha de publicación

2015

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

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15/30321848 DC Historia

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