IEC TS 62622:2012
Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.

Estándar No.

IEC TS 62622:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Ultima versión

IEC TS 62622:2012

IEC TS 62622:2012 Historia

• 2012 IEC TS 62622:2012 Nanotecnologías - Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales