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BSIEC 60747-14-11. Dispositivos semiconductores. Parte 14-11. Sensores semiconductores. Método de prueba de sensor integrado basado en ondas acústicas de superficie para medir rayos ultravioleta, iluminación y temperatura.

Estándar No.
18/30362458 DC
Fecha de publicación
2018
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
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18/30362458 DC Historia

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