VLSI TEST-1998
Pruebas VLSI: técnicas digitales y mixtas analógico/digital

Estándar No.
VLSI TEST-1998
Fecha de publicación
1998
Organización
IET - Institution of Engineering and Technology
Alcance
La importancia de probar circuitos integrados (CI) ha aumentado con la creciente complejidad de los circuitos fabricados en un solo chip IC. Ya no es posible diseñar un nuevo CI y luego pensar en probarlo: tales consideraciones deben ser parte de la actividad de diseño inicial@ y las estrategias de prueba deben ser parte de la educación de cada diseñador de circuitos y sistemas. Este libro es una introducción y referencia completa para todos los aspectos de las pruebas de circuitos integrados. Incluye todos los conceptos y teorías básicos necesarios para estudiantes avanzados, desde estrategias prácticas de pruebas y práctica industrial hasta los aspectos económicos y de gestión de las pruebas. Además de la cobertura detallada de las pruebas de redes digitales, las pruebas VLSI también consideran en profundidad el área creciente de pruebas de circuitos integrados analógicos y mixtos analógicos/digitales, utilizados particularmente en el procesamiento de señales. Autor Stanley L. Hurst



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