IEC 62047-44:2024
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 44: Métodos de prueba para el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS sensibles a campos eléctricos resonantes.

Estándar No.
IEC 62047-44:2024
Fecha de publicación
2024
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62047-44:2024
 

Introducción

Nombre del estándar: Dispositivos semiconductores – Dispositivos microelectromecánicos – Parte 44: Métodos de prueba para el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS sensibles al campo eléctrico resonante

Número del estándar: IEC 62047-44:2024-02

Alcance: Este estándar internacional especifica los métodos de prueba para evaluar el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS resonantes sensibles al campo eléctrico. Es aplicable en la industria de semiconductores y microelectromecánica para garantizar la calidad y el rendimiento de estos dispositivos.

Análisis: La norma IEC 62047-44:2024-02 es crucial para la industria de dispositivos semiconductores y microelectromecánicos (MEMS). Proporciona métodos estandarizados para probar el rendimiento dinámico de los dispositivos MEMS resonantes sensibles al campo eléctrico, asegurando que cumplan con los requisitos de calidad y funcionalidad necesarios. Esta norma es esencial para fabricantes, investigadores y desarrolladores en el campo de la tecnología MEMS, ya que establece un marco común para la evaluación y comparación de dispositivos. Además, al ser una norma internacional, facilita la interoperabilidad y el comercio global de estos dispositivos tecnológicos avanzados.

IEC 62047-44:2024 Historia

  • 2024 IEC 62047-44:2024 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 44: Métodos de prueba para el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS sensibles a campos eléctricos resonantes.
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 44: Métodos de prueba para el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS sensibles a campos eléctricos resonantes.

estándares y especificaciones

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