GJB 762.2-1989(XG1-2015)
Método de prueba de endurecimiento por radiación de dispositivos semiconductores γ Hoja de modificación de la prueba de irradiación de dosis total 1-2015 (Versión en inglés)

Estándar No.

GJB 762.2-1989(XG1-2015)

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Ultima versión

GJB 762.2-1989(XG1-2015)

GJB 762.2-1989(XG1-2015) Historia

• 0000 GJB 762.2-1989(XG1-2015)
• 1989 GJB 762.2-1989 Dispositivo semiconductor método de prueba de endurecimiento por radiación prueba de irradiación de dosis total gamma