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BS ISO 16413. Evaluación del espesor, densidad y ancho de interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
Inicio
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2012
Organización
SCC
Ultima versión
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12/30235353 DC Historia
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