IEC 60147-1D:1981
Suplemento D - Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición - Parte 1: Clasificaciones y características esenciales - Capítulo 6: Circuitos integrados digitales

Estándar No.
IEC 60147-1D:1981
Fecha de publicación
1981
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 60147-1D:1981
Remplazado por
IEC 60147-1D:1981
Reemplazar
31.080.10
 

Introducción

Este documento establece los fundamentos generales para las características y valores nominales básicos de los dispositivos semiconductores, con un enfoque específico en la tecnología de circuitos integrados digitales. La norma define los procedimientos de medición y los parámetros esenciales que deben ser evaluados para asegurar la consistencia y la comparabilidad de los componentes en diferentes aplicaciones industriales.

Se centra en el capítulo correspondiente a la especificación de los circuitos integrados digitales, detallando los límites operativos y las condiciones de prueba necesarias. Este enfoque proporciona un marco técnico común para la industria, facilitando el intercambio de información entre fabricantes y usuarios finales sin depender de definiciones locales o particulares.

Los principios aquí enunciados son aplicables a una amplia gama de dispositivos, garantizando que las especificaciones técnicas se mantengan uniformes. La metodología descrita aborda la manera en que deben ser caracterizados los componentes digitales, abarcando desde el consumo de energía hasta las velocidades de conmutación, bajo condiciones estandarizadas que permiten una evaluación rigurosa y fiable de su rendimiento.

IEC 60147-1D:1981 Historia

  • 1972 IEC 60147-1:1972 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales
  • 1963 IEC 60147-1:1963 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales

estándares y especificaciones




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