VDI/VDE 2655 BLATT 1.2-2010 Tecnología de medición óptica en microtopografías. Calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
2010VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
2009VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2009 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para mediciones de rugosidad.