CEI EN 62132-4:2006
Circuitos integrados. Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF.

Estándar No.
CEI EN 62132-4:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Comitato Elettrotecnico Italiano
Ultima versión
CEI EN 62132-4:2006
 
Introducción
Este estándar establece los requisitos y métodos para realizar mediciones de inmunidad electromagnética en circuitos integrados. Se enfoca en la evaluación de la respuesta de los dispositivos ante interferencias electromagnéticas en un rango de frecuencias específico. La norma describe una metodología detallada para la aplicación de una técnica de inyección de potencia de radiofrecuencia directa. Este documento proporciona instrucciones claras sobre el procedimiento a seguir, los equipos necesarios y los criterios de evaluación. Su objetivo es garantizar que los circuitos integrados cumplan con ciertos niveles de resistencia ante perturbaciones electromagnéticas. La norma también incluye información sobre las condiciones de prueba y los parámetros de medición relevantes.

CEI EN 62132-4:2006 Historia

  • 2006 CEI EN 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF.

estándares y especificaciones

DS/EN 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF. GSO IEC 62132-4:2015 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF. IEC 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF. EN 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF. IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Enmienda 1 - Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 4: Medición de emisiones conducidas - Método DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Circuitos integrados – Medición de inmunidad electromagnética BS EN 62132-8:2012 Circuitos integrados. Medida de inmunidad electromagnética. Medición de la inmunidad irradiada. Método de línea de corte IC DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Circuitos integrados – Medición de inmunidad electromagnética NF C96-261-4*NF EN 62132-4:2006 integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: método de inyección directa de potencia de RF.


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