SJ/T 2354-2015/0352
Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 2354-2015/0352

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Organización

Professional Standard - Electron

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para los parámetros fotoeléctricos de PIN y fotodiodos de avalancha (en adelante, "diodos").