IEEE P1838_D2.0, August 2019
Borrador de estándar IEEE para arquitectura de acceso a pruebas para circuitos integrados apilados tridimensionales

Estándar No.
IEEE P1838_D2.0, August 2019
Fecha de publicación
2019
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Alcance
IEEE Std 1838 es un estándar centrado en matrices; se aplica a un dado que está destinado a ser parte de una pila de múltiples dados. Este estándar define características a nivel de matriz que, cuando las matrices compatibles se juntan en una pila, comprenden una arquitectura a nivel de pila que permite el transporte de señales de control y datos para la prueba de (1) circuitos dentro de la matriz y (2) inter- el troquel se interconecta en ambos (a) pre-apilamiento...



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