DD ENV 50218-1996
Descripción de un mini chip de prueba europeo parametrizado

Estándar No.

DD ENV 50218-1996

Fecha de publicación

1996

Organización

British Standards Institution (BSI)

Alcance

Documenta las estructuras de prueba MOS parametrizadas del modelo de dispositivo Chip de prueba de extracción de parámetros (PTC) del mini chip de prueba europeo (ETC).