BS 9400:1970
Especificación para circuitos electrónicos integrados y microconjuntos de calidad evaluada (procedimientos de aprobación de calificación): datos genéricos y métodos de prueba.

Estándar No.
BS 9400:1970
Fecha de publicación
1970
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
 1985-11
Remplazado por
BS CECC 90000:1985
Ultima versión
BS CECC 90000:1985
 
Alcance
Forma parte del sistema de normas para piezas electrónicas de calidad evaluada. Términos, definiciones, métodos de prueba y otro material necesario para implementar completamente las especificaciones detalladas para circuitos electrónicos integrados. En la sección 2 se incluyen las reglas generales para la preparación de especificaciones detalladas.

BS 9400:1970 Historia

  • 1985 BS CECC 90000:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica: circuitos integrados monolíticos
  • 1970 BS 9400:1970 Especificación para circuitos electrónicos integrados y microconjuntos de calidad evaluada (procedimientos de aprobación de calificación): datos genéricos y métodos de prueba.

estándares y especificaciones

BS EN 170000:1999 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación genérica: resonadores dieléctricos tipo guía de ondas DS/IEC 748-21:1993 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 21: Especificación seccional para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película IEC 60748-21:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 21: Especificaciones seccionales para circuitos integrados de película y circuitos integrados DS/EN 61811-1:2000 Relés electromecánicos todo o nada de tiempo no especificado de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica DANSK DS/IEC 748-21:1993 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 21: Especificaciones seccionales para circuitos integrados de película y circuitos integrados AS 1352.1:1991 Resistencias fijas para uso en equipos electrónicos, Parte 1: Términos y métodos de prueba - Especificación genérica (QC400000 IEC 60748-21-1:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 21-1: Especificación detallada en blanco para circuitos integrados de película y circuitos BS EN 168000:1996 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica: unidades de cristal de cuarzo BS EN 167000:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica: filtros piezoeléctricos


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