GEIA EIA-584-1991
Procedimientos de muestreo y tablas de número de aceptación cero para inspección por atributos de un proceso de fabricación continuo

Estándar No.

GEIA EIA-584-1991

Fecha de publicación

1991

Organización

Government Electronic & Information Technology Association

Alcance

Los planes de muestreo de atributos convencionales basados en números de aceptación distintos de cero ya no son deseables. Además, ahora se pone énfasis en el nivel de calidad que recibe el cliente. Esto se relaciona directamente con el valor del porcentaje de defectos de tolerancia del lote (LTPD) o la protección de calidad límite de MTLSTD-105. La medición de los niveles de calidad en porcentaje de no conformidad, aunque no es incorrecta, ha sido reemplazada por niveles de calidad medidos en partes por millón (PPM). Como resultado, esta norma aborda la necesidad de planes de muestreo que puedan aumentar MIGSTD-105, se basen en un número de aceptación cero y aborden niveles de calidad (no conformidad) en el rango de partes por millón. Este documento no aborda las no conformidades menores, que se definen como no conformidades que probablemente no reduzcan materialmente la usabilidad de la unidad de producto para el propósito previsto.

estándares y especificaciones