JEDEC EIA-372-1970
Medición de parámetros de admitancia de transistores VHF-UHF de señal pequeña

Estándar No.
JEDEC EIA-372-1970
Fecha de publicación
1970
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Estado
Alcance
El sistema de medición debe proporcionar un medio para aplicar polarización al transistor bajo prueba. El sistema de polarización debe ser tal que no influya en la precisión de las mediciones.



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