(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
El método SWEAT es una prueba de electromigración acelerada realizada sobre metalizaciones microelectrónicas. Esta prueba altamente acelerada se desarrolló como método para obtener rápidamente una medida de la confiabilidad de la metalización y para proporcionar datos de control de procesos al fabricante de semiconductores.