JEDEC JESD85-2001
Métodos para calcular las tasas de fracaso en unidades de FIT

Estándar No.
JEDEC JESD85-2001
Fecha de publicación
2001
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
Los métodos descritos en este documento se aplican a modos y mecanismos de falla cuyas fallas exhiben una tasa de falla constante, es decir, un comportamiento de Arrhenius caracterizado por una energía de activación para la falla. Si existen datos sobre las distribuciones de fallas en el tiempo, estas energías de activación se pueden asumir a partir del conocimiento previo o de las firmas de análisis de fallas. Si las energías de activación predeterminadas no se conocen o no se pueden determinar, se puede utilizar una energía de activación como predeterminada. Consulte JEP 122 Energías de activación para mecanismos de falla para obtener estimaciones iniciales.



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