(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
Los errores leves son errores funcionales no destructivos inducidos por impactos de iones energéticos. Los errores suaves son un subconjunto de efectos de evento único (SEE) e incluyen perturbaciones de un solo evento (SEU), perturbaciones de múltiples bits (MBU), interrupciones funcionales de un solo evento (SEFI), transitorios de un solo evento (SET) que, si están bloqueados, convertirse en SEU y enganche de evento único (SEL), donde la formación de acción bipolar parásita en los pozos CMOS induce una ruta de baja impedancia entre la energía y la tierra, produciendo una condición de alta corriente (SEL también puede causar errores latentes y graves).