YD/T 1690.2-2007
Interior de equipos de telecomunicaciones: Medición de emisiones electromagnéticas: 150 KHz a 1 GHz Parte 2: Medición de emisiones radiadas Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha (Versión en inglés)

Estándar No.
YD/T 1690.2-2007
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2007
Organización
Professional Standard - Post and Telecommunication
Ultima versión
YD/T 1690.2-2007
 
Alcance
Esta parte especifica métodos para mediciones de emisiones radiadas dentro de equipos de telecomunicaciones a través de celdas TEM y métodos de celdas TEM de banda ancha. Esta parte es aplicable a circuitos integrados dentro de equipos de telecomunicaciones con un rango de frecuencia operativa de 150 kHz a 1 GHz.

YD/T 1690.2-2007 Documento de referencia

  • GB/T 4365-2003 Terminología electrotécnica Compatibilidad electromagnética
  • YD/T 1690.1-2007 Interior de equipos de telecomunicaciones-Medición de emisiones electromagnéticas-150KHz a 1GHz Parte 1:Condiciones generales y definiciones

YD/T 1690.2-2007 Historia

  • 2007 YD/T 1690.2-2007 Interior de equipos de telecomunicaciones: Medición de emisiones electromagnéticas: 150 KHz a 1 GHz Parte 2: Medición de emisiones radiadas Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
Interior de equipos de telecomunicaciones: Medición de emisiones electromagnéticas: 150 KHz a 1 GHz Parte 2: Medición de emisiones radiadas Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha

Temas especiales sobre estándares y normas

emisión electromagnética emisiones radiadas tecnología de lanzamiento tecnología Pruebas de emisiones radiadas Pruebas de emisiones radiadas Tecnología de diagnóstico de equipos. cámara de ondas electromagnéticas transversales

estándares y especificaciones

DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Circuitos integrados – Medición de inmunidad electromagnética DS/EN 62132-2:2011 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha IEC 62132-2:2010 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha GSO IEC 62132-2:2013 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: Medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha BS EN 62132-2:2011 Circuitos integrados. Medida de inmunidad electromagnética. Medición de la inmunidad irradiada. Método de células TEM y células TEM de banda ancha SAE J1752-3-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de celda TEM/TEM de banda ancha (GTEM); Celda TEM (150 kHz a 1 GHz) @ Celda TEM de banda ancha SAE J1752/3-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de celda TEM/TEM de banda ancha (GTEM); Celda TEM (150 kHz a 1 GHz), Celda TEM de banda ancha (150 SAE J1752/3-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de celda TEM/TEM de banda ancha (GTEM); Celda TEM (150 kHz a 1 GHz), Celda TEM de banda ancha (150 SAE J1752/3-1995 Medición de emisiones radiadas desde circuitos integrados: método de celda Tem/Tem de banda ancha (Gtem); Tem Cell (150 Khz a 1 Ghz), Tem Cell de banda ancha SAE J1752/3-2017 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de celda TEM/TEM de banda ancha (GTEM); Celda TEM (150 kHz a 1 GHz), Celda TEM de banda ancha


© 2025 Reservados todos los derechos.