Los siguientes problemas surgen comúnmente cuando se prueban componentes electrónicos en un ambiente de radiación. La mayoría de estas interferencias están presentes cuando el circuito de prueba se irradia bajo polarización sin el dispositivo bajo prueba. Este Apéndice no es una parte obligatoria de la norma. La información contenida en este documento está destinada únicamente a fines orientativos.