DLA SMD-5962-91725-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
La garantía del producto (dispositivo de clase VI. El dibujo forma parte de un sistema de documentación de miembros de una sola parte (consulte 6.6 en este documento). ys a(dree vaicvea iclalabslsee asn Qd aanred Mre) flaencd tespda cine athpep lPicaartt ioonr Dos números de identificación (PIN) 1.2.1 de MIL-STD-883, II Disposiciones para el uso de MIL-STD-883 junto con dispositivos no compatibles Dispositivos JAN1. Disponibles, una selección de niveles de Garantía de dureza de radiación (RHA) se reflejan en el PIN. Los microcircuitos de clase M del dispositivo representan microcircuitos de clase B que no son JAN de acuerdo con Cuando la garantía del producto (clase de dispositivo VI. El dibujo forma parte de un sistema de documentación de una parte - una parte (ver 6.6 en este documento). athpep lPicaartt ionr Dos números de identificación (PIN). 1.2.1 de MIL-STD-883, II Disposiciones para el uso de MIL-STD-883 junto con dispositivos que no cumplen con JANa1. disponible, en el PIN se reflejan una selección de niveles de Garantía de dureza por radiación (RHA). Los microcircuitos de clase M del dispositivo representan microcircuitos de clase B que no son JAN de acuerdo con Cuando