DLA SMD-5962-91726-1994 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
Este dibujo forma parte de un sistema de documentación de números de una parte (ver 6.6 en este documento). Las clases de garantía de producto Tu0 que consisten en alta confiabilidad militar (clases de dispositivo 9 y MI y aplicaciones espaciales (dispositivo clase V), y una selección de contornos de carcasa y acabados de cables están disponibles y se reflejan en el número de pieza o de identificación (PIN). 1.2. 1 de MIL-STD-883, en Disposiciones para el uso de MIL-STD-883 junto con dispositivos compatibles que no son JAN". Disponible, una selección de niveles de Garantía de dureza de radiación (RHA) se refleja en el PIN. Microcircuitos de clase M del dispositivo representan microcircuitos de clase B que no son JAN de acuerdo con