KS B 5410-1982
Métodos de medición del factor de viñeteado y la iluminancia relativa del plano focal.

Estándar No.: KS B 5410-1982
Fecha de publicación: 1982
Organización: Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado: ser reemplazado 2013-12
Remplazado por: KS B 5410-2013
Ultima versión: KS B 5410-2023

KS B 5410-1982 Historia

2023 KS B 5410-2023 Método de medición del factor de viñeteado y la iluminancia relativa de lentes fotográficas.
0000 KS B 5410-2013(2018)
2013 KS B 5410-2013 Métodos de medición del factor de viñeteado y la iluminancia relativa del plano focal.
1979 KS B 5410-1979 Métodos de medición del factor de viñeteado y la iluminancia relativa del plano focal.

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de medición del error de planitud. Método de prueba de distribución relativa del peso molecular. Factor promedio relativo Factores de corrección absolutos y relativos. Factores de simetría y factores de cola.

estándares y especificaciones

KS B 5410-1979 y la iluminancia relativa del plano focal. KS B 5410-2013 y la iluminancia relativa del plano focal. KS B 5410-2013(2018 y la iluminancia relativa del plano focal. JIS B 7096:1978 y la iluminancia relativa del plano focal. DIN ISO 517:2009 Fotografía - Aberturas y propiedades relacionadas con lentes fotográficas - Designaciones y medidas (ISO 517:2008); Versión en inglés de DIN ISO 517:2009-05 ISO 517:2008 Fotografía - Aberturas y propiedades relacionadas con lentes fotográficas - Designaciones y medidas ISO 2721:2013 Fotografía - Cámaras de película - Controles automáticos de exposición EN 12543-4:1999 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 4: Método BS EN 12543-4:1999 Ensayos no destructivos - Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos - Método de borde

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