IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996
Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2

Estándar No.
IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996
Fecha de publicación
1996
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996
 
Alcance
Este estándar son los dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2.

IEC 60748-3/AMD2/COR1:1996 Historia

  • 1996 IEC 60748-3:1986/AMD2:1994/COR1:1996 Corrigendum 1 de la Enmienda 2 - Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos
  • 1994 IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2
  • 1991 IEC 60748-3:1986/AMD1:1991 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 1
  • 1986 IEC 60748-3:1986 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 3: Circuitos integrados analógicos.

estándares y especificaciones

IEC 60748-3:1986/AMD2:1994 semiconductores; circuitos integrados; parte 3: circuitos integrados analógicos; enmienda 2 IEC 60748-11:1990/AMD2:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 11: Especificaciones seccionales para circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos GB 14028-2018 Principios básicos de los métodos de prueba de interruptores analógicos de circuitos integrados de semiconductores NF C96-042:1989 Dispositivos semiconductores Circuitos integrados Parte 2: Circuitos integrados digitales IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 Dispositivos semiconductores. Parte 16-2: Circuitos integrados de microondas. Preescaladores de frecuencia; Enmienda 1 GSO IEC 60748-4-1:2013 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 4: Circuitos integrados de interfaz - Sección 1: Especificación detallada en blanco IEC 60748-2-11:1999 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 2-11: Circuitos integrados digitales - Especificación detallada en blanco para circuito integrado GSO IEC 60749-8:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado IEC 60749-8:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado


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