DLA MIL-PRF-19500/684 D (1)-2009
DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, EFECTO DE CAMPO, SILICIO, CANAL N, ENDURECIDO POR RADIACIÓN (DOSIS TOTAL Y EFECTOS DE EVENTO ÚNICO), TIPOS 2N7472U2, 2N7473U2 Y 2N7474U2, JANTXVR Y JANSR

Estándar No.

DLA MIL-PRF-19500/684 D (1)-2009

Fecha de publicación

2009

Organización

Defense Logistics Agency

Estado