REG NASA-LLIS-1315-2002
Lecciones aprendidas: aumento de la susceptibilidad a ESD de los circuitos integrados (2002)

Estándar No.: REG NASA-LLIS-1315-2002
Fecha de publicación: 2002
Organización: GB-REG

Temas especiales sobre estándares y normas

sensibilidad electromagnética esd

estándares y especificaciones

ESD SP5.3.3-2018 Prueba del modelo de dispositivo cargado (CDM): CDM de contacto de baja impedancia a nivel de componente como método alternativo de caracterización de CDM ESD SP5.3.4-2022 Modelo de dispositivo cargado (CDM) Prueba de impulsos de línea de transmisión acoplada capacitivamente a nivel de componente (CC-TLP) como método alternativo SP5.3.3-2018 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Prueba del modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de componente CDM de contacto de baja impedancia JS-002-2014 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática: modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de dispositivo DIN EN IEC 60749-28:2024-12*VDE 0884-749-28:2024-12 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos GSO IEC 60749-28:2021 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo IEC 60749-28:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo CEI EN IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo BS EN IEC 60749-28:2022 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo

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