Las degradaciones de distorsión no lineal en circuitos analógicos normalmente se evalúan midiendo las señales de frecuencia armónica resultantes de una señal de prueba sinusoidal o midiendo señales de frecuencia de intermodulación resultantes de la interacción de una señal de prueba multitono. Los estudios y la experiencia han demostrado que el método de distorsión armónica puede subestimar gravemente la cantidad de no linealidad presente en un circuito bajo ciertas circunstancias. Cuando hay múltiples fuentes de no linealidad en un circuito, los productos armónicos pueden tender a cancelarse entre sí, mientras que los productos de intermodulación generados por una señal de datos compleja pueden no cancelarse y afectar significativamente el mensaje transmitido. Este efecto se ha vuelto cada vez más importante con la llegada de velocidades de bits más altas y con señales de datos codificadas multinivel/multifase.