JEDEC JESD47H-2011
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
Inicio
JEDEC JESD47H-2011
Estándar No.
JEDEC JESD47H-2011
Fecha de publicación
2011
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Estado
Retirar
© 2024 Reservados todos los derechos.