BS ISO 15470:2005
Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Estándar No.
BS ISO 15470:2005
Fecha de publicación
2005
Organización
British Standards Institution (BSI)
Estado
 2017-03
Remplazado por
BS ISO 15470:2017
Ultima versión
BS ISO 15470:2017
 
Alcance
Esta norma internacional describe la forma en que se describirán aspectos específicos del rendimiento de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X.

BS ISO 15470:2005 Historia

  • 2017 BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
  • 2005 BS ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de análisis de datos del espectrómetro de barrido Descripción del espectrómetro

estándares y especificaciones

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