LST EN 60749-19+AC-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (IEC 60749-19:2002)
Inicio
LST EN 60749-19+AC-2003
Estándar No.
LST EN 60749-19+AC-2003
Fecha de publicación
2003
Organización
Lithuanian Standards Office
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