LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (IEC 60749-19:2003/A1:2010)

Estándar No.

LST EN 60749-19+AC-2003/A1-2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Lithuanian Standards Office