IEC 47A/924/DTS:2014
CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.

Estándar No.

IEC 47A/924/DTS:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC/TS 62132-9:2014

Reemplazar

IEC 47A/903/CD:2013